本試驗室的XL30 ESEM-FEG場發射環境掃描電子顯微鏡是美國FEI公司生產的。掃描電子顯微鏡利用高能電子束，與試樣表層物質相互作用，激發出二次電子、背散射電子，X射線等信息成像。

    這台電鏡的最大加速電壓30kv，最高空間分辨率2nm。目前我們主要用它觀察竹、藤和竹炭的微觀結構，分析防腐處理材、竹炭中的元素分布，以及利用溴化反應探測木質素的分布。

    與傳統的電鏡相比，這台掃描電鏡具有3個特點。

1. 場發射槍的亮度為傳統鎢絲光源的1000倍，可以在較低的加速電壓下獲得高分辨率，尤為適宜於觀察導電性差、在高電壓下易聚電的竹藤等生物材料。

2. 除了可以在高真空模式下觀察導電的樣品外，生物試樣（特別是活體試樣）在環境模式下可不經過噴鍍處理直接觀察。並且配有冷台，可防止因水份散失引起的樣品變形。

3. 這台儀器在做形貌觀察的同時，還可以進行元素分析。它配有X射線探頭和一套X射線能譜分析係統，可以做鈹元素以後元素的定性分析和定量分析，可以做麵分析和線分析。

    這台儀器的功能齊全，適用範圍廣，並且是本行業唯一的一台場發射環境掃描電子顯微鏡。