Quanta 200 HV是美國FEI公司生產的普通高真空掃描電子顯微鏡，配有二次電子探頭和固體背散射探頭，可滿足常規的圖像觀察和微觀分析。該設備配有紅外CCD攝像探頭，可隨時檢測樣品室內樣品台的移動。不僅方便了樣品的選擇，而且還減少了樣品和物鏡相碰的可能性。該儀器除了具有高真空模式，升級後增加低真空和環境真空（ESEM）模式，以適應不能進行樣品處理和需要進行樣品原位測試等方麵的應用。

    中心主要用於研究竹藤材、木材的斷裂表麵結構形態觀察，微觀或超微構造分析研究。

    主要特點與技術參數
（1） 試樣為塊狀或粉末顆粒，可以觀察直徑範圍0～30mm；
（2） 燈絲：鎢燈絲
（3） 分辨率3.5nm；
（4） 加速電壓：200v～30kv；
（5） 放大倍數變化範圍大，7x～1000，000x，便於多相、多組成的非均勻材料在低倍和高倍下觀察分析。
（6） 全對中樣品台：x=50mm,y=50mm,z=50mm，其中25mm馬達驅動，樣品台傾斜－15°～75°，樣品360°連續旋轉
（7） 采用雙放大倍數裝置或圖像選擇器，可在熒光屏上同時觀察不同放大倍數或不同形式的圖像。
（8） 配有樣品拉伸等樣品台，能原位、適時觀察和監測材料的斷裂過程及斷裂機理。